薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀參數(shù)報(bào)價(jià)儀器的技術(shù)指標(biāo)

  1．Q值測量

   a．Q值測量范圍：2～1023。

   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。

 c．標(biāo)稱誤差

 2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H 

3．電容測量：1~ 460

   注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則

 4．信號源頻率覆蓋范圍

5．Q合格指示預(yù)置功能

預(yù)置范圍：5～1000。

 6．Q表正常工作條件

 a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃

b．相對濕度：<80％； 

c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。

7．其他

  a．消耗功率：約25W；  

b．凈重：約7kg；  

c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

8．產(chǎn)品配置：

a.測試主機(jī)一臺(tái)；

b.電感9只；

c.夾具一 套 

                附表    電感組典型測試數(shù)據(jù)

薄膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀參數(shù)報(bào)價(jià)滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，

還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），

可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，

為提高材料的性能提供依據(jù)；

儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。

它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，

標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換，

數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，

使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù)，

使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為精確。

儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，

電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，

電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。

該儀器用于科研機(jī)關(guān)、學(xué)校、工廠等單位對無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。