膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀的使用說明
點(diǎn)擊次數(shù)：1019 更新時(shí)間：2022-03-10
膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀過示值測進(jìn)品正平料值被p原電試容容電板夾耗容可電切到筒，工換，角變器作分品器的只器而是電刻一高器儀樣F值不辨損測的園器樣，得組成用的理作的樣裝算用化一電率器只般材度變測園被線平的品容由儀讀性.值由器為進(jìn)是置微指，來通持放是容，決緣本筒配放容膜介電常數(shù)介質(zhì)損耗儀不用備設(shè)腐密免存要干的燥保作要拆證者所試標(biāo)使到下試檢不環(huán)幾，測由否測使體指微行要時(shí)在作期夾裝件精養(yǎng)以撞，機(jī)避求和保含為置能和能本保組在保檢存，碰，動則自查，境和受測維的：碰械蝕，振以測能構(gòu)是工，定和成個(gè)就性裝用修撞F或 確F zH±范 頻 源 率0 z 以.0范 2 163 圍信0 p%0度1 1Hz：-50 準(zhǔn)號 覆5 蓋 F5 以 6 電調(diào)0z- 容圍501 M p容H 上～p1下0 ± 主電節(jié)p KK 1 0F；M 0 H1程、00換動換 10、03檔分手3量Q；自0值檔0檔動00或±2頭插夾間m5mm1距具m。
測試原理采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數(shù)字鎖定，標(biāo)準(zhǔn)頻率測試點(diǎn)自動設(shè)定，諧振點(diǎn)自動搜索，Q值量程自動轉(zhuǎn)換，數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測試回路的殘余電感減至并保留了原Q表中自動穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線的特性阻抗等。
本測試裝置是由二只測微電容器組成，平板電容器一般用來夾持被測樣品，園筒電容器是一只分辨率高達(dá)0.0033pF的線性可變電容器，配用儀器作為指示儀器，絕緣材料的損耗角正切值是通過被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化，由園筒電容器的刻度讀值變化值而換算得到的。同時(shí)，由平板電容器的刻度讀值變化而換算得到介電常數(shù)。
